AP-S 显微扫描测试系统，集合了稳定的显微测试光路与专业的高速高分辨扫描技术，非常适合二维材料，量子点，钙钛矿等材料的显微光谱分析应用。AP-S 显微扫描测试系统可以与荧光光谱和拉曼光谱等测试系统相结合.得益于稳定的显微镜机械设计，也可以利用长时间的测试测量信号很弱的样品。