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产品信息

AP-LN-1000 微型高低温测试台

微型高低温探针台用于变温下的电学试验,可在 77K~1000K 的温度范围内进行控温,实现样品在开放式/气密/真空环境下,反/透射的原位变温光学与电学测试。

支持与显微镜、光谱仪、半导体测试仪、电学源表等仪器设备联用。

技术参数

AP-LN-1000 微型高低温测试台

微型高低温探针台用于变温下的电学试验,可在 77K~1000K 的温度范围内进行控温,实现样品在开放式/气密/真空环境下,反/透射的原位变温光学与电学测试。

支持与显微镜、光谱仪、半导体测试仪、电学源表等仪器设备联用。

产品留有细尾巴可以插入磁体孔径中,实现加场测量。

产品可以根据客户需要加装光学窗口,进行光学实验。

AP-LN-1000 微型高低温测试台

参数和指标

参数
变温范围
77K-1000K
样品环境

真空/气氛

测试引线
直流、射频、探针可选
视窗材料
可选

北京爱普赛科技有限公司

联系方式

电话15379596793

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